Farklı ışınlama mesafelerinin ve seramik materyallerinin rezin simanın yüzey sertliği üzerine etkisinin incelenmesi

Abstract

Amaç: Bu çalışmanın amacı, ışık kaynağı ile seramik materyalleri arasındaki farklı ışınlama mesafelerinin kullanılan rezin simanın yüzey sertliğine etkisinin incelenmesidir.Gereç ve Yöntem: Dual-cure rezin siman (NX3, Kerr), lityum disilikat press seramik (IPS e.max Press (EP)) veya 3 farklı CAD/CAM materyali (Lava Ultimate (LU), e.max CAD (EC), Vita Suprinity (VS)) ile dentin yüzeyi arasında, LED ışık cihazı kullanılarak 10 sn boyunca 0, 3 ve 6 mm mesafelerden polimerize edildi (n=10). Örneklerin Vickers sertlik değerleri, polimerizasyondan hemen sonra ve karanlık ortamda, 37°C'de 24 saat distile suda bekletildikten sonra yapıldı. Her örneğin alt ve üst yüzeylerinden üç noktadan ölçüm yapıldı. Verilerin analizi ANOVA ile yapıldı. Çoklu karşılaştırmalar için Bonferroni testi kullanıldı (p<0,05).Bulgular: LU örneklerin altındaki rezin simanın sertlik değerleri, diğer materyallere oranla istatistiksel olarak anlamlı derecede yüksek bulundu (p<0,05). Tüm gruplarda alt yüzeyin sertlik değerleri üst yüzeye göre anlamlı düzeyde düşük bulundu (p<0,05). Işık kaynağı - seramik arası mesafenin 0 mm olduğu grupların sertlik değerleri, 3 ve 6 mm olan gruplara göre anlamlı düzeyde yüksek bulundu (p<0,05). 24 saat sonraki ölçümlerde elde edilen sertlik değerleri, polimerzasondan hemen sonra yapılan ölçümlerdeki değerlere göre anlamlı olarak yüksek bulundu (p<0,05).Sonuç: Yeterli polimerizasyon elde edebilmek için kullanılan seramik materyalinin ve ışık kaynağı ile mesafesinin önemli faktörler olduğu sonucuna varıldı